電子萬能試驗(yàn)機(jī)的變形試驗(yàn)是指在各種的載荷作用下，變體型的形狀、位置、尺寸等在時間或者空間上發(fā)生的變化，而變形監(jiān)測又可以叫做變形測量或者變形觀測。主要是對設(shè)置在變形提上的觀測點(diǎn)進(jìn)行周期性的反復(fù)觀測，從而獲得觀測點(diǎn)或是高程階段的變化。試驗(yàn)機(jī)的變形測量是試驗(yàn)機(jī)測控系統(tǒng)比較重要的組成部分，是試驗(yàn)機(jī)關(guān)鍵技術(shù)環(huán)節(jié)。選用可靠性高，穩(wěn)定性強(qiáng)的變形測量儀器是值得用戶考慮的因素之一。

DL伺服控制電子萬能試驗(yàn)機(jī)

　　一、變形試驗(yàn)要點(diǎn)

　　1.變形測量技術(shù)參數(shù):變形測量指標(biāo)的參數(shù)包括測量范圍、示值誤差、靈敏度和分辨率；

　　2.測量范圍-試驗(yàn)機(jī)通過測量系統(tǒng)測量的小尺寸材料或部件之間的范圍；

　　3.指示誤差——樣品變形值記錄或顯示的測量值與測量值之差稱為試驗(yàn)機(jī)測量系統(tǒng)的指示誤差，示值誤差不可避免，其大小在規(guī)定范圍或標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)；

　　4.試驗(yàn)機(jī)的變形測量靈敏度-靈敏度指示器相對于測量變化的位移率，靈敏度是測量物理儀器的標(biāo)志，測量系統(tǒng)的靈敏度越高，測量結(jié)果的準(zhǔn)確度越高。

　　二、變形測量技術(shù)參數(shù)：

　　變形測量指標(biāo)參數(shù)有測量范圍，示值誤差，靈敏度，分辨率。

　　測量范圍——試驗(yàn)機(jī)通過測量系統(tǒng)所能夠測量到的材料或構(gòu)件的zui小尺寸與zui大尺寸之間的范圍。

　　示值誤差——試樣變形值的記錄或顯示的測量值與被測量值的實(shí)際數(shù)值之差，稱為試驗(yàn)機(jī)測量系統(tǒng)的示值誤差。示值誤差是不可避免的，其大小在特定的范圍內(nèi)或者標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定范圍。

　　試驗(yàn)機(jī)變形測量靈敏度——靈敏度指示器的相對于被測量變化的位移率，靈敏度是衡量物理儀器的一個標(biāo)志，試驗(yàn)機(jī)測量系統(tǒng)靈敏度越精細(xì)，則測量結(jié)果精度越高。

　　試驗(yàn)機(jī)變形測量的分辨率是指試驗(yàn)機(jī)光電編碼器測量數(shù)據(jù)的可測量的zui小精度。分辨率越大，測量結(jié)果越精確。

　　三、變形測量工作原理：

　　應(yīng)變式引伸計是由彈性元件和粘貼在它上的應(yīng)變片組成的，當(dāng)引伸計移動臂受力時，引起彈性體變形并使粘貼在它上面的應(yīng)變片電阻值發(fā)生變化，原來平衡的電橋失去平衡輸出一個正比于變形的電壓信號輸出，由于引伸計輸出的電信號極其微弱，必須經(jīng)放大后才能達(dá)到要求的值，這個工作由完全由A/D轉(zhuǎn)換器放大和轉(zhuǎn)換，然后送到單片計算機(jī)進(jìn)行處理，以直讀的方式進(jìn)行顯示，同時通過RS232傳輸?shù)接嬎銠C(jī)，進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

　　關(guān)于電子萬能試驗(yàn)機(jī)的變形測量水平和精度取決于允許變形值和變形測量目的，如果觀測的目的是使變形值不超過一定的允許值以保證建筑物的安全，則觀測中的誤差不應(yīng)小于允許變形值的1/10~1/20，如果觀測的目的是研究變形過程，那么觀測精度應(yīng)該更高。另外變形測量是用試驗(yàn)機(jī)監(jiān)測變形體的變化，該方法目的是獲取變形體空間位置隨時間變化的特征，并根據(jù)結(jié)果調(diào)整相應(yīng)的結(jié)果。